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    激光衍射粒度分析儀

    激光衍射粒度分析儀

    更新時(shí)間:2022-04-29

    產(chǎn)品型號:LS 13 320 XR

    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

    生產(chǎn)地址:美國

    產(chǎn)品報價(jià):

    產(chǎn)品特點(diǎn):LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動(dòng)、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡(jiǎn)單的干濕兩用粒度分析儀,采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進(jìn)樣模塊,“即插即用",滿(mǎn)足不同的分析要求,靈活便利;PIDS技術(shù)真正實(shí)現10nm粒徑測量;直觀(guān)的軟件和觸摸屏設計。

    產(chǎn)品詳情

    貝克曼庫爾特公司新一代 LS 13 320 XR 將激光衍射粒度分析儀提升到了一個(gè)更高的水平,升級版 PIDS 專(zhuān)技 術(shù),優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現性更 好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。并且新軟 件的操作界面更加直觀(guān),僅需點(diǎn)擊幾次便可獲得您需要的數據。

    LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動(dòng)、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡(jiǎn)單的干濕兩用粒 度分析儀,采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進(jìn)樣模塊, “即插即用",滿(mǎn)足不同的分析要求,靈活便利;PIDS技術(shù),真正實(shí)現 10nm粒徑測量;直觀(guān)的軟件和觸摸屏設計,大大簡(jiǎn)化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開(kāi)啟全新的測量體驗!
    超高分辨率
    不論單峰、雙峰還是多峰,不論納米、微米還是納微米,均可實(shí)現高分 辨率的檢測
    寬測量范圍:10nm-3500µm
    提供真實(shí)(峰值)、高分辨率的測試數據,下限低至 10nm,上限高達 3500µm
    升級版 PIDS 技術(shù):更好解決納米測量挑戰
    提高原始數據檢測精度,提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏 度,真正實(shí)現亞微米級粒度分析 - 以往極難達到的測量能力
    多峰自動(dòng)檢測
    測量前無(wú)需估計粒度分布情況(比如多峰、窄分布),便可獲得真實(shí)的 測量結果
    簡(jiǎn)單、直觀(guān)的操作軟件
    • 從開(kāi)始測量到獲得結果僅需 2 次點(diǎn)擊
    • 包含一個(gè)集成的光學(xué)常數數據庫
    • 隨時(shí)向您通報有用的用戶(hù)診斷報告
    • 精簡(jiǎn)的工作流不僅易于使用,更節省時(shí)間
    數據完整性及合規性
    FDA的《電子記錄和電子簽名規則》 (21 CFR 第 11 部分)規定了提交電 子文件的要求。選擇軟件的最高安全 等級,系統將自動(dòng)調節以下配置,以 符合該法規要求:
    • 電子簽名
    • 用戶(hù)安全登錄
    • 用戶(hù)權限
    • 審查跟蹤
    • 錯誤日志文件
    • 管理配置工具
    驗證
    這是《生產(chǎn)質(zhì)量管理規范(GMP)》和其它法規要求所必須的。 LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序,可滿(mǎn)足安裝驗證(IQ)和運行驗證(OQ) 所需。
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    簡(jiǎn)單易用的軟件 簡(jiǎn)化您的日常工作
    導航輪 顯示和導出數據僅需點(diǎn)擊 1 次。
    比以往更高效的粒度分析
    LS 13 320 XR 軟件的功能界面更加直觀(guān),非常易于使用,您無(wú)需具備大量的操作知識便可輕松獲得準確 的數據。
    開(kāi)始測量
    檢測方法一旦在LS 13 320 XR軟件中設定,僅需點(diǎn)擊2次便 可開(kāi)始測量。選擇預先設定的方法,編輯樣品信息,然后點(diǎn) 擊開(kāi)始測量。
    儀器自檢
    儀器配備有自檢診斷功能,測試過(guò)程中隨時(shí)顯示測量情況。
    自動(dòng)合格/不合格管理,實(shí)現直接質(zhì)控
    為檢驗樣品合格/不合格,LS 13 320 XR軟件自動(dòng)對測量結果 標注綠色或紅色,提示其是否符合所需規格。因此,無(wú)論操 作人員經(jīng)驗如何,均可通過(guò)該功能迅速了解樣品質(zhì)量情況。
    導航輪
    顯示和導出數據僅需點(diǎn)擊 1 次。
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    重磅創(chuàng )新 幫助您準確測量細微差異
    細節尤為重要!樣本間極細微的差異,會(huì )導致成品間出現巨大差異。 這也是為什么 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析儀采用 132 枚檢測器的原因,其可以提供更高的分辨率,獲得更 準確的檢測結果,同時(shí)實(shí)現 10 nm - 3500 µm 的寬范圍測量。
    X-D陣列檢測器 - 確保高分辨率的準確測量
    • 特殊設計X型對數排布檢測器陣列,可以準確記錄散射光強信號,獲得 真實(shí)準確的粒度分布
    • 132枚檢測器能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異,快速、準 確的提供真實(shí)粒度分布
    • 優(yōu)化的檢測器信噪比,大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力
    • 亞微米檢測區域,應用6枚檢測器對三種不同波長(cháng)的光在垂直和水平偏振 方向上進(jìn)行36個(gè)單獨檢測,提供納米級顆粒優(yōu)異的準確性和高分辨率
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    多峰樣品自動(dòng)檢測,更放心
    • 憑借業(yè)界出眾的技術(shù),無(wú)需預估樣品峰 型,無(wú)需選擇分析模型,輕松準確分析 多峰樣品,讓您對測試結果更放心
    • 準確性誤差優(yōu)于±0.5%
    • 重復性誤差優(yōu)于±0.5%
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    重磅創(chuàng )新 真正實(shí)現納米級測量
    創(chuàng )新不止,重磅升級,基于升級版PID技術(shù),LS 13 320 XR真正實(shí)現納米 級測量,提供亞微米顆粒更高分辨率的粒度分析,下限可準確檢測至 10nm!
    PIDS技術(shù):偏振光強度差散射
    傳統方法測量亞微米顆粒的散射光強譜圖在形狀和強度 上都非常相似,區分比較困難,因此當測量亞微米顆粒 時(shí),由于分辨率低而造成不準確的粒度測量。
    而亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射 譜圖,而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。 PIDS技術(shù)采用了3種不同波長(cháng)的光順次照射樣品,首先 為垂直偏振,然后為水平偏振,通過(guò)分析每個(gè)波長(cháng)的水 平和垂直輻射光之間的差異,便可獲得亞微米樣品準確 的粒度分布信息。升級版PIDS技術(shù)從光源到濾波器 再到檢測器都進(jìn)行了全面的升級,使得測量亞微米顆粒 的動(dòng)態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。







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